电容CCD检测系统
CCD检测系统是基于测包机的检测系统,采用先进的计算机视觉技术,自主研发的缺陷检测算法对纸袋待包装单颗电容外观质量进行缺陷检测,并剔除缺陷产品或报警提示
所属分类:
电子、半导体行业
咨询热线:
电容CCD检测系统
图文详情

软件介绍
CCD检测系统是基于测包机的检测系统,采用先进的计算机视觉技术,自主研发的缺陷检测算法对纸袋待包装单颗电容外观质量进行缺陷检测,并剔除缺陷产品或报警提示。

功能特点
1)可加装测包机类型:Tokyo东京熔接、新永丰、浩笙等;
2)检测对象:产品正面、背面;
3)检测项目:C1、G2;
4)可检缺陷类型:刮伤、尺寸、沾锡、破洞、异物、碎角等;
5)加装相机数量:两个;
6)操作简单方便,无论是新手还是技术工人,都可以快速学会上手调试。
系统配置
1)硬件环境:
CPU:i5或i7,4核,3GHz,6M三级缓存及以上;
内存:DDR3,2400MHz,4G及以上;
硬盘:128G SSD+500G,7200转,64M缓存(或500G SSD)及以上。
2)该系统配置高速工业相机、镜头和光源。由相机采集到图像,传送到图像处理系统,然后对图像进行分析识别检测。
技术及质量指标
1)检测速度:1.6ms-10.8ms/颗,不同型号机台、不同型别产品及硬件环境,具体检测时间不等;
2)缺陷检测率:>99.2%;
3)产品报警准确率:>98.1%。
产品应用领域
贴片电容。
上一页
缺陷检测
下一页
ONLINE MESSAGE
在线留言
*注:请务必信息填写准确,并保持通讯畅通,我们会尽快与你取得联系